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       光電直讀光譜儀目前已經(jīng)是市場上應(yīng)用很廣泛的一種儀器，應(yīng)用在生產(chǎn)工藝環(huán)節(jié)或者產(chǎn)成品抽查。但是我們不可否認(rèn)的是，在使用過程中還是會出現(xiàn)一些誤差，那這些誤差又是從哪來的。

       這個先不著急，我們先從其他兩方面講起：

       首先講的是關(guān)于分析精度的問題，它主要受以下幾個因素的影響。

       1.光電倍增管和放大器采集系統(tǒng)的精度，在光柵前有一個疲勞燈作光源做試驗(yàn)，稱燈曝光試驗(yàn)，可得靜態(tài)測光精度要小于0.2%。

       2.分光系統(tǒng)的信/噪比要大。

       3.激發(fā)光源的激發(fā)穩(wěn)定性有關(guān)。

       4.試樣元素的分布均勻性有關(guān)。

       另外還有在使用前，前期的準(zhǔn)備要正確：

       1.儀器本身的安裝、調(diào)試的正確。

       2.共存元素的差別和它們之間的干擾。

       3.標(biāo)樣與分析試樣品之間狀態(tài)差別。

       4.基體元素的沖淡效應(yīng)。

創(chuàng)想儀器GLMY直讀光譜分析儀的檢測

       最后我們來看誤差的主要來源：

       1.氬氣不純：當(dāng)氬氣中含有氧和水蒸汽時，使激發(fā)斑點(diǎn)變壞。如果氬氣管道與電極架有污染物排不出去，或有濁漏時，分析結(jié)果變差。

       2.試樣要求表面平整，當(dāng)試樣放在電極架上時，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)試樣的聲音不正常。激發(fā)斑點(diǎn)變白。

       3.對高鎳鉻鋼磨樣時，要使用新砂輪片磨樣。磨紋操作更加要求嚴(yán)格。

       4.試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試料要有一定代表性。

       5.分析樣品與控制標(biāo)樣的磨紋粗細(xì)要一致，不可有交叉紋，磨樣用力不要過大，而且用力要均勻，要力求操作一致，用力過大，容易造成試料表面氧化。

       6.出射狹維的位置變化受溫度的影響最大，因此保持分光室內(nèi)的恒溫系統(tǒng)32℃±0.1℃很重更還要求室內(nèi)保持溫度一致，使出射狹很難偏離。

       7.W電極的頂尖應(yīng)當(dāng)具有一定角度使光軸不得偏離中心。放電間隙應(yīng)當(dāng)保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線強(qiáng)度會改變。重復(fù)放電以后，w電極會長尖，改變間隙放電距離。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸汽會污染激發(fā)。所以必須激發(fā)一次后就要用刷子清理電極。

       8.真空度不夠會降低分折靈敏度，特別≤200m波長更明顯，為此要求真空度達(dá)到5x0.01mm/Hg。

       9.透鏡內(nèi)表面用來保持真空，常常受到來自真空泵油蒸汽的污染：外表面受到分析時產(chǎn)生金屬蒸汽的附著。使透過率明顯的降低，對≤200nm 的碳、硫、磷譜線的透過率很顯著降低，工作曲線的斜率降低，所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。

       10.電源電壓變化容易引起激發(fā)單元的放電電壓的改變，電源電壓要求10%以內(nèi)。

       11.溫度和濕度的變化。室內(nèi)溫度的增加會增加光電倍增管的暗電流、降低信/噪比。濕度大容易產(chǎn)生高壓元件的漏電、放電現(xiàn)象，使分析結(jié)果產(chǎn)生不穩(wěn)定。

       以上就是這次創(chuàng)想儀器GLMY為大家?guī)淼年P(guān)于光電直讀光譜分析儀中誤差來源的相關(guān)的內(nèi)容，希望對大家今后的檢測工作有幫助。